X-Ray Microscopy and Spectromicroscopy
Produktnummer:
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| Themengebiete: | X-ray electromagnetic microscopy optics spectroscopy |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 23.08.2014 |
| EAN: | 9783642721083 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 383 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Herausgeber: | Rudolph, Dietbert Schmahl, Günter Thieme, Jürgen Umbach, Eberhard |
| Verlag: | Springer Berlin |
| Untertitel: | Status Report from the Fifth International Conference, Würzburg, August 19–23, 1996 |
Produktinformationen "X-Ray Microscopy and Spectromicroscopy"
This book appeals to reseachers developing and/or using the new and important technique of X-ray microscopy. The subject is treated systematically in the book, which gives a status report on this analytical technique. The variety of applications is presented on the enclosed CD.
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