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VLSI Design and Test

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Produktnummer: 18c732966799784fa1bd5e772c46244ba6
Themengebiete: computer hardware computer networks computer systems microprocessor chips network protocols signal processing telecommunication systems
Veröffentlichungsdatum: 25.01.2019
EAN: 9789811359491
Sprache: Englisch
Seitenzahl: 722
Produktart: Kartoniert / Broschiert
Herausgeber: Balamurugan, N.B. Gracia Nirmala Rani, D. Rajaram, S. Singh, Virendra
Verlag: Springer Singapore
Untertitel: 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers
Produktinformationen "VLSI Design and Test"
This book constitutes the refereed proceedings of the 22st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2018, held in Madurai, India, in June 2018.The 39 full papers and 11 short papers presented together with 8 poster papers were carefully reviewed and selected from 231 submissions. The papers are organized in topical sections named: digital design; analog and mixed signal design; hardware security; micro bio-fluidics; VLSI testing; analog circuits and devices; network-on-chip; memory; quantum computing and NoC; sensors and interfaces.
Bücherregal gefüllt mit juristischen Werken

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