Supervised Testing of Embedded Concurrent Software
Produktnummer:
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Autor: | Jahic, Jasmin |
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Themengebiete: | Computing and Information Technology Fraunhofer IESE Informatiker Wissenschaftler computer modelling and simulation embedded systems software engineering software testing and verification |
Veröffentlichungsdatum: | 13.04.2021 |
EAN: | 9783839616833 |
Sprache: | Englisch |
Seitenzahl: | 196 |
Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
Herausgeber: | Bomarius, Frank Liggesmeyer, Peter Rombach, Dieter |
Verlag: | Fraunhofer Verlag |
Produktinformationen "Supervised Testing of Embedded Concurrent Software"
This work provides means for a better understanding of the actions involved in the software testing of concurrent embedded systems. It complements the existing approaches for concurrency bug dynamic analysis with models of concurrency limitations present in the embedded systems domain and improves their precision, where the main evaluation criterion is the number of false positives.

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