Um unseren Shop in vollem Umfang nutzen zu können, empfehlen wir Ihnen Javascript in Ihrem Browser zu aktivieren.

Haben Sie Fragen? Einfach anrufen, wir helfen gerne: Tel. 089/210233-0

oder besuchen Sie unser Ladengeschäft in der Pacellistraße 5 (Maxburg) 80333 München

+++ Versandkostenfreie Lieferung innerhalb Deutschlands

Haben Sie Fragen? Tel. 089/210233-0

Ihr Konto

Anmelden

oder registrieren

Übersicht Persönliches Profil Adressen Zahlungsarten Bestellungen Kreditkarten

JURISTISCHE LITERATUR

STUDIENLITERATUR

INFORMATIONEN

Zur Kategorie STUDIENLITERATUR

Wichtige Studienliteratur

Prüfungszugelassene Titel

AGB

Datenschutz

Kontakt

Impressum

Über Uns

Service

Home

JURISTISCHE LITERATUR
STUDIENLITERATUR
DATENBANKEN
BEHÖRDEN
BECK ONLINE
INFORMATIONEN

Zu "electron diffraction" wurden 44 Produkte gefunden

Filter

Nur Neuerscheinungen

Springer Berlin (12)
Springer Netherland (15)
Springer US (17)

Gebunden (17)
Kartoniert / Broschiert (23)
Kassette / Medienmix z.B. Audio und Buch (4)

Auciello, O. Gras-Martí, Alberto Valles-Abarca, Jose Antonio Flamm, Daniel L. (2)
Bianconi, Antonio Congiu Castellano, Agostina (1)
Davenas, Joel Rabette, P.M. (1)
Goldstein, Joseph Joy, David C. Romig Jr., Alton D. (2)
Imelik, Boris Vedrine, Jacques C. (2)
Katrusiak, Andrzej McMillan, Paul (2)
Kennard, O. Watson, D.G. (2)
Kolb, Ute Shankland, Kenneth Meshi, Louisa Avilov, Anatoly David, William I.F (2)
Kuchitsu, Kozo Vogt, Natalja Tanimoto, Mitsutoshi (2)
Popov, Valentin N. Lambin, Philippe (2)
Reimer, Ludwig (1)
Rickerby, David G. Valdrè, Giovanni Valdrè, Ugo (2)
Rincon, Jesus Ma. Romero, Maximina (2)
Weirich, Thomas E. Lábár, János L. Zou, Xiaodong (2)

Alford, Terry L. Feldman, L.C. Mayer, James W. (2)
Andrews, Kenneth William Dyson, David John Keown, Samuel Robert (1)
Bonis, L. J. Hausner, H. H. (1)
Goldstein, Joseph Newbury, Dale E. Joy, David C. Lyman, Charles E. Echlin, Patrick Lifshin, Eric Sawyer, Linda Michael, J.R. (2)
Houk, Kendall N. Hunter, Christopher A. Krische, Michael J. Lehn, Jean-Marie Ley, Steven V. Olivucci, Massimo Thiem, Joachim Venturi, Margherita Vogel, Pierre Wong, Chi-Huey Wong, Henry N. C. Yamamoto, Hisashi (1)
Jeffrey, George A. Saenger, Wolfram (1)
Sawyer, Linda Grubb, David T. Meyers, Gregory F. (2)
Wang, Zhong-lin Hui, Chun (1)
Weigold, Erich McCarthy, Ian (2)
Zhong-lin Wang (2)

1966 (1)
1986 (1)
1990 (1)
1994 (1)
1995 (1)
1998 (1)
1999 (1)
2003 (1)
2004 (2)
2006 (2)
2007 (2)
2008 (1)
2010 (1)
2011 (1)
2012 (1)
2013 (1)
2014 (1)

Englisch (44)

HOME

1
2

Fundamentals of Nanoscale Film Analysis

Fundamentals of Nanoscale Film Analysis

84,98 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

$Elastic and Inelastic Scattering in Electron Diffraction and Imaging$

Elastic and Inelastic Scattering in Electron Diffraction and Imaging

160,49 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

$Interpretation of Electron Diffraction Patterns$

Interpretation of Electron Diffraction Patterns

53,49 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

117,69 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Carbon Nanotubes: From Basic Research to Nanotechnology

Carbon Nanotubes: From Basic Research to Nanotechnology

213,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Fundamentals of Nanoscale Film Analysis

Fundamentals of Nanoscale Film Analysis

106,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Catalyst Characterization

Catalyst Characterization

320,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Molecules Containing no Carbon Atoms and Molecules Containing one or two Carbon Atoms

Molecules Containing no Carbon Atoms and Molecules Containing one or two Carbon Atoms

534,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Electron Crystallography

Electron Crystallography

106,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Electron Crystallography

Electron Crystallography

106,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Contribution of Clusters Physics to Materials Science and Technology

Contribution of Clusters Physics to Materials Science and Technology

53,49 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

117,69 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Plasma-Surface Interactions and Processing of Materials

Plasma-Surface Interactions and Processing of Materials

320,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Complexes and Organometallic Structures

Complexes and Organometallic Structures

53,49 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Carbon Nanotubes: From Basic Research to Nanotechnology

Carbon Nanotubes: From Basic Research to Nanotechnology

213,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

$Uniting Electron Crystallography and Powder Diffraction$

Uniting Electron Crystallography and Powder Diffraction

213,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Energy-Filtering Transmission Electron Microscopy

Energy-Filtering Transmission Electron Microscopy

53,49 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

$Gas-Phase Electron Diffraction$

Gas-Phase Electron Diffraction

106,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Plasma-Surface Interactions and Processing of Materials

Plasma-Surface Interactions and Processing of Materials

320,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Bibliography 1935–69

Bibliography 1935–69

53,49 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Fundamental Phenomena in the Materials Sciences

Fundamental Phenomena in the Materials Sciences

53,49 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Electron Microscopy of Nanotubes

Electron Microscopy of Nanotubes

160,49 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Electron Momentum Spectroscopy

Electron Momentum Spectroscopy

213,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Biophysics and Synchrotron Radiation

Biophysics and Synchrotron Radiation

106,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

1
2

Buchhandlung Georg Blendl GmbH & Co KG
Buchhandlung und Antiquariat für Rechts- und Staatswissenschaften
Pacellistraße 5 (Maxburg)
80333 München
+049 89 210 233-0
+049 89 210 233-44
info@BGB-Online.de
ww.BGB-Online.de

Öffnungszeiten:
Montag bis Freitag
8:15 bis 18:00 Uhr

Samstag geschlossen

Online 24/7

JURISTISCHE LITERATUR
STUDIENLITERATUR
DATENBANKEN
BEHÖRDEN
BECK ONLINE

AGB
Datenschutz
Kontakt
Impressum
Über Uns
Service

Diese Website verwendet Cookies, um eine bestmögliche Erfahrung bieten zu können. Mehr Informationen ...