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Zu "VLSI Testing and Diagnosis" wurden 2 Produkte gefunden
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Nur Neuerscheinungen
Verlag
Springer US (2)
Produktart
Gebunden (1)
Kartoniert / Broschiert (1)
Autor
Tehranipoor, Mohammad Peng, Ke Chakrabarty, Krishnendu (2)
Themengebiete
Chip Testing (2)
Delay Testing (2)
Design for Test (2)
Integrated Circuits and Systems (2)
Nanometer Circuit Testing (2)
Small-delay defects (2)
VLSI Testing and Diagnosis (2)
Veröffentlichungsdatum
2011 (1)
2014 (1)
Sprache
Englisch (2)
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Erscheinungsdatum
Name A-Z
Name Z-A
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Beste Ergebnisse
Topseller
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
119,99 €*
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
106,99 €*
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