Zu "ToF-SIMS" wurden 5 Produkte gefunden
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Multivariate Data Analysis for Root Cause Analyses and Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry
80,24 €*
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Oberflächenbeschichtungen von Silizium, HOPG und Graphitanoden mittels Thiol-En/In Click-Chemie, deren Charakterisierung mit XPS und ToF-SIMS sowie elektrochemische Untersuchung
44,50 €*
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