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Zu "Test Group Generation for Detecting Multiple Faults" wurden 2 Produkte gefunden
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Nur Neuerscheinungen
Verlag
Springer International Publishing (2)
Produktart
Gebunden (1)
Kartoniert / Broschiert (1)
Autor
Ubar, Raimund Raik, Jaan Jenihhin, Maksim Jutman, Artur (2)
Themengebiete
Applications in Test Engineering (2)
Avoiding Mutual Masking of Multiple Faults (2)
Binary Decision Diagrams (2)
Boolean Algebra Meets Graph-Theory (2)
Cross-level Modeling of Faults in Digital Systems (2)
High-level Decision Diagrams for Modeling Digital Systems (2)
Multi-valued Simulation for Hazard Detection in Digital Circuits (2)
Parallel Fault Simulation with Critical Path Backtracing (2)
Structural Decision Diagrams for Modeling Digital Circuits (2)
Test Group Generation for Detecting Multiple Faults (2)
Veröffentlichungsdatum
2024 (1)
2025 (1)
Sprache
Englisch (2)
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Erscheinungsdatum
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Name Z-A
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Structural Decision Diagrams in Digital Test
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