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Zu "Magnetic Exchange Force Microscopy" wurden 2 Produkte gefunden
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Verlag
Springer International Publishing (2)
Produktart
Gebunden (1)
Kartoniert / Broschiert (1)
Herausgeber
Morita, Seizo Giessibl, Franz J. Meyer, Ernst Wiesendanger, Roland (2)
Themengebiete
Atom Manipulation (2)
Atomic Force Microscopy (2)
Atomic Resolution (2)
Atomic/Molecular Manipulation (2)
Chemical Structure (2)
Force Mapping with Atomic Resolution (2)
Liquid AFM (2)
Magnetic Exchange Force Microscopy (2)
Scanning Probe Techniques (2)
Scanning Tunneling Microscopy (2)
Veröffentlichungsdatum
2015 (1)
2016 (1)
Sprache
Englisch (2)
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Erscheinungsdatum
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