Scanning Electron Microscopy
Produktnummer:
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| Autor: | Reimer, Ludwig |
|---|---|
| Themengebiete: | Rasterelektronen Mikroskopie Scanning Tunneling Microscopy crystal diffraction electron microscope electron microscopy electron optics microscopy optics scanning electron microscope |
| Veröffentlichungsdatum: | 17.09.1998 |
| EAN: | 9783540639763 |
| Auflage: | 2 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 529 |
| Produktart: | Gebunden |
| Verlag: | Springer Berlin |
| Untertitel: | Physics of Image Formation and Microanalysis |
Produktinformationen "Scanning Electron Microscopy"
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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