Haben Sie Fragen? Einfach anrufen, wir helfen gerne: Tel. 089/210233-0
oder besuchen Sie unser Ladengeschäft in der Pacellistraße 5 (Maxburg) 80333 München
+++ Versandkostenfreie Lieferung innerhalb Deutschlands
Haben Sie Fragen? Tel. 089/210233-0

Progress in Pattern Recognition, Image Analysis, Computer Vision, and Applications

106,99 €*

Sofort verfügbar, Lieferzeit: 1-3 Tage

Produktnummer: 182856139b3a3f478aa9c5c4f5bfa6d527
Themengebiete: big data classification clustering data mining discrete geometry edge detection evolutionary computation feature selection fingerprint genetic programming
Veröffentlichungsdatum: 15.10.2014
EAN: 9783319125671
Sprache: Englisch
Seitenzahl: 1050
Produktart: Kartoniert / Broschiert
Herausgeber: Bayro-Corrochano, Eduardo Hancock, Edwin
Verlag: Springer International Publishing
Untertitel: 19th Iberoamerican Congress, CIARP 2014, Puerto Vallarta, Mexico, November 2-5, 2014, Proceedings
Produktinformationen "Progress in Pattern Recognition, Image Analysis, Computer Vision, and Applications"
This book constitutes the refereed proceedings of the 19th Iberoamerican Congress on Pattern Recognition, CIARP 2014, held in Puerto Vallarta, Jalisco, Mexico, in November 2014. The 115 papers presented were carefully reviewed and selected from 160 submissions. The papers are organized in topical sections on image coding, processing and analysis; segmentation, analysis of shape and texture; analysis of signal, speech and language; document processing and recognition; feature extraction, clustering and classification; pattern recognition and machine learning; neural networks for pattern recognition; computer vision and robot vision; video segmentation and tracking.

Sie möchten lieber vor Ort einkaufen?

Sie haben Fragen zu diesem oder anderen Produkten oder möchten einfach gerne analog im Laden stöbern? Wir sind gerne für Sie da und beraten Sie auch telefonisch.

Juristische Fachbuchhandlung
Georg Blendl

Parcellistraße 5 (Maxburg)
8033 München

Montag - Freitag: 8:15 -18 Uhr
Samstags geschlossen