Produktnummer:
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| Themengebiete: | AFM STM Transmission advanced electron optics coherent electron techniques composite electron microscopy electron optics imaging microscopy |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 01.12.2010 |
| EAN: | 9783642075254 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 442 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Herausgeber: | Ernst, Frank Rühle, Manfred |
| Verlag: | Springer Berlin |
Produktinformationen "High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials"
This book is an advanced text on high-resolution electron microscopy. It gives a survey of high-level electron microscopy and its application to surface and interface studies.
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