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Data-driven Methods for Fault Localization in Process Technology

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Produktnummer: 184023bd38279c4fdc847fde21775c5c72
Autor: Kühnert, Christian
Themengebiete: Causality Data Mining Signal processing System identification Time series
Veröffentlichungsdatum: 24.10.2013
EAN: 9783731500988
Sprache: Englisch
Seitenzahl: 224
Produktart: Kartoniert / Broschiert
Verlag: KIT Scientific Publishing
Produktinformationen "Data-driven Methods for Fault Localization in Process Technology"
Control systems at production plants consist of a large number of process variables. When detecting abnormal behavior, these variables generate an alarm. Due to the interconnection of the plant\'s devices the fault can lead to an alarm flood. This again hides the original location of the causing device. In this work several data-driven approaches for root cause localization are proposed, compared and combined. All methods analyze disturbed process data for backtracking the propagation path.

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