Critical Phenomena at Surfaces and Interfaces
Produktnummer:
18258d838047994f1295e7e50fad446c0c
| Autor: | Dosch, Helmut |
|---|---|
| Themengebiete: | Phasenübergänge Röntgenstrahlung und Neutronenstreuung Streuung X-ray diffraction oberflächeninduzierte kritische Phänomene phase transitions scattering specular reflection surface |
| Veröffentlichungsdatum: | 03.10.2013 |
| EAN: | 9783662149751 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 149 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Verlag: | Springer Berlin |
| Untertitel: | Evanescent X-Ray and Neutron Scattering |
Produktinformationen "Critical Phenomena at Surfaces and Interfaces"
This book deals with the application of grazing angle x-ray and neutron scattering to the study of surface-induced critical phenomena. With the advent of even more advanced synchrotron radiation sources and new sophisticated instrumentation this novel technique is expected to experience a boom. The comprehensive and detailed presentation of theoretical and experimental aspects of the scattering of evanascent x-ray and neutron waves inside a solid makes this book particularly useful for tutorial courses. Particular emphasis is put on the use of this technique to extract microscopic information (correlation functions) from the real structure of a surface, from buried and magnetic interfaces and from surface roughness.
Sie möchten lieber vor Ort einkaufen?
Sie haben Fragen zu diesem oder anderen Produkten oder möchten einfach gerne analog im Laden stöbern? Wir sind gerne für Sie da und beraten Sie auch telefonisch.
Juristische Fachbuchhandlung
Georg Blendl
Parcellistraße 5 (Maxburg)
8033 München
Montag - Freitag: 8:15 -18 Uhr
Samstags geschlossen