X-ray and Image Analysis in Electron Microscopy
Produktnummer:
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| Autor: | Berlin, Jana Friel, John J. Langner, Stefan Rohde, Martin Salge, Tobias Terborg, Ralf |
|---|---|
| Themengebiete: | EPMA SDD chemical microanalysis microprobe nanoanalysis nanoscience spectrometry |
| Veröffentlichungsdatum: | 18.04.2017 |
| EAN: | 9783864606748 |
| Auflage: | 3 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 118 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Verlag: | Westarp BookOnDemand |
Produktinformationen "X-ray and Image Analysis in Electron Microscopy"
This book provides the reader with a discussion of X-ray microanalysis and imaging techniques. It is meant to be an introduction for newcomers to the fields and a reference for experienced microscopists. This third edition has been largely rewritten, reflecting the huge advances in hardware and software technology. Table of contents: I. Introduction II. Electron-specimen interaction and X-ray generation III. X-ray measurement IV. Qualitative analysis V. Quantitative analysis VI. Precision and accuracy VII. Operating conditions in the microscope VIII. Digital imaging: Processing and image math IX. Image and feature analysis X. X-ray maps and line scans XI. Application examples
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