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VLSI Design and Test

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Produktnummer: 1823154a0e4eab46d48123cb0ec33f2f6b
Themengebiete: SRAM arrays VLSI digital circuits multi-processor architectures network-on-chip
Veröffentlichungsdatum: 10.12.2013
EAN: 9783642420238
Sprache: Englisch
Seitenzahl: 388
Produktart: Kartoniert / Broschiert
Herausgeber: Boolchandani, D. Gaur, Manoj Singh Laxmi, Vijay Sing, Virendra Singh, Adit Zwolinski, Mark
Verlag: Springer Berlin
Untertitel: 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
Produktinformationen "VLSI Design and Test"
This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.

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