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VLSI Design and Test

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Produktnummer: 180ff08d165b3d4fe48f1df0d5026b4ecc
Themengebiete: Analog/Mixed Signal Architecture and CAD Circuits Design Verification Devices and Technology – I Devices and Technology – II Digital circuits Digital design Embedded systems Emerging Technologies and Memory
Veröffentlichungsdatum: 22.12.2017
EAN: 9789811074691
Sprache: Englisch
Seitenzahl: 815
Produktart: Kartoniert / Broschiert
Herausgeber: Dasgupta, Sudeb Kaushik, Brajesh Kumar Singh, Virendra
Verlag: Springer Singapore
Untertitel: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 – July 2, 2017, Revised Selected Papers
Produktinformationen "VLSI Design and Test"
This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.

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