Thermal Conductivity Measurements in Atomically Thin Materials and Devices
Produktnummer:
18e16558595bfc471aa6a138596ca74701
Autor: | Kasirga, T. Serkan |
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Themengebiete: | Atomically Thin Materials Graphene Layers Nanosheets Photothermal Effects Thermal Conductivity Measurement Thermal Management of Materials Transition Metal Dichalcogenides Van Der Waals Stacking |
Veröffentlichungsdatum: | 20.05.2020 |
EAN: | 9789811553479 |
Sprache: | Englisch |
Seitenzahl: | 50 |
Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
Verlag: | Springer Singapore |
Produktinformationen "Thermal Conductivity Measurements in Atomically Thin Materials and Devices"
This book assesses the thermal feasibility of using materials with atomically thin layers such as graphene and the transition metal dichalcogenides family in electronics and optoelectronics applications. The focus is on thermal conductivity measurement techniques currently available for the investigation of thermal performance at the material and device level. In addition to providing detailed information on the available techniques, the book introduces readers to novel techniques based on photothermal effects.

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