Testverfahren in der Mikroelektronik
Produktnummer:
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| Autor: | Daehn, Wilfried |
|---|---|
| Themengebiete: | Automatische Testmusterberechnung CMOS Fehlermodellierung Fehlersimulation Generatoren Komplexität Mikroelektronik Produktion Schaltung Schaltungsentwurf |
| Veröffentlichungsdatum: | 19.10.2011 |
| EAN: | 9783642644566 |
| Sprache: | Deutsch |
| Seitenzahl: | 219 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Verlag: | Springer Berlin |
| Untertitel: | Methoden und Werkzeuge |
Produktinformationen "Testverfahren in der Mikroelektronik"
Die Akzeptanz mikroelektronischer Systemlösungen in industriellen und privaten Anwendungsbereichen hängt in starkem Maße von der Fehlerfreiheit und Zuverlässigkeit der eingesetzten elektronischen Schaltungen ab. Dies ist durch Verbesserungen in der Fertigung allein nicht mehr zu gewährleisten. Die Komplexität heutiger VLSI-Schaltungen hat dabei den Anteil der Testkosten an den gesamten Herstellungskosten eines digitalen Systems in rasanter Weise steigen lassen. Das Buch gibt einen Überblick über die Algorithmen, Methoden und Werkzeuge, um diesen Herausforderungen zu begegnen. Die mathematisch exakte Formlierung der Testaufgabe zieht sich dabei als roter Faden durch das ganze Buch,von der Fehlermodellierung bis hin zum testfreundlichen Schaltungsentwurf.
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