Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Produktnummer:
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| Autor: | Chakrabarty, Krishnendu Peng, Ke Tehranipoor, Mohammad |
|---|---|
| Themengebiete: | Chip Testing Delay Testing Design for Test Integrated Circuits and Systems Nanometer Circuit Testing Small-delay defects VLSI Testing and Diagnosis |
| Veröffentlichungsdatum: | 27.09.2011 |
| EAN: | 9781441982964 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 212 |
| Produktart: | Gebunden |
| Verlag: | Springer US |
Produktinformationen "Test and Diagnosis for Small-Delay Defects"
This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.
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