Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
Produktnummer:
18b4902dc090a04b33bcce887ce8fb040b
| Autor: | Bhuvaneswari, M.C. Jayanthy, S. |
|---|---|
| Themengebiete: | Crosstalk delay faults Deterministic Algorithms Fuzzy Delay Model Genetic Algorithm Very Large Scale Integration |
| Veröffentlichungsdatum: | 21.12.2018 |
| EAN: | 9789811347849 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 156 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Verlag: | Springer Singapore |
Produktinformationen "Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits"
Sie möchten lieber vor Ort einkaufen?
Sie haben Fragen zu diesem oder anderen Produkten oder möchten einfach gerne analog im Laden stöbern? Wir sind gerne für Sie da und beraten Sie auch telefonisch.
Juristische Fachbuchhandlung
Georg Blendl
Parcellistraße 5 (Maxburg)
8033 München
Montag - Freitag: 8:15 -18 Uhr
Samstags geschlossen