Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
Produktnummer:
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| Autor: | Bhuvaneswari, M.C. Jayanthy, S. |
|---|---|
| Themengebiete: | Crosstalk delay faults Deterministic Algorithms Fuzzy Delay Model Genetic Algorithm Very Large Scale Integration |
| Veröffentlichungsdatum: | 10.10.2018 |
| EAN: | 9789811324925 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 156 |
| Produktart: | Gebunden |
| Verlag: | Springer Singapore |
Produktinformationen "Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits"
This book describes a variety of test generation algorithms for testing crosstalk delay faults in VLSI circuits. It introduces readers to the various crosstalk effects and describes both deterministic and simulation-based methods for testing crosstalk delay faults. The book begins with a focus on currently available crosstalk delay models, test generation algorithms for delay faults and crosstalk delay faults, before moving on to deterministic algorithms and simulation-based algorithms used to test crosstalk delay faults. Given its depth of coverage, the book will be of interest to design engineers and researchers in the field of VLSI Testing.
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