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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

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Produktnummer: 18a510896812154eaf8982589280067ec6
Themengebiete: Bayesian network Monte Carlo Method bayesian networks biometrics clustering document analysis feature extraction graphical pattern recognition image analysis modeling
Veröffentlichungsdatum: 03.08.2006
EAN: 9783540372363
Sprache: Englisch
Seitenzahl: 939
Produktart: Kartoniert / Broschiert
Herausgeber: Fred, Ana Kwok, James T. Roli, Fabio Yeung, Dit-Yan de Ridder, Dick
Verlag: Springer Berlin
Untertitel: Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
Produktinformationen "Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition"

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