Strain Effect in Semiconductors
Produktnummer:
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Autor: | Nishida, Toshikazu Sun, Yongke Thompson, Scott E. |
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Themengebiete: | CMOS technology Semiconductor Sensor fundamental physics logic devices microelectromechanical system (MEMS) optoelectronic devices strain-based MEMS strain effect strain physics |
Veröffentlichungsdatum: | 20.11.2014 |
EAN: | 9781489983152 |
Sprache: | Englisch |
Seitenzahl: | 350 |
Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
Verlag: | Springer US |
Untertitel: | Theory and Device Applications |
Produktinformationen "Strain Effect in Semiconductors"
Strain Effect in Semiconductors: Theory and Device Applications presents the fundamentals and applications of strain in semiconductors and semiconductor devices that is relevant for strain-enhanced advanced CMOS technology and strain-based piezoresistive MEMS transducers. Discusses relevant applications of strain while also focusing on the fundamental physics pertaining to bulk, planar, and scaled nano-devices. Hence, this book is relevant for current strained Si logic technology as well as for understanding the physics and scaling for future strained nano-scale devices.

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