Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces
Produktnummer:
188892c167b66b49e790b7988127424ab7
| Autor: | Chen, Chia-Wei |
|---|---|
| Themengebiete: | Curved surfaces Dünnschicht- Messtechnik Ellipsometrie Ellipsometry Mueller matrix Müller-Matrix Retroreflex-Ellipsometrie Retroreflex ellipsometry Thin-film metrology gekrümmte Oberflächen |
| Veröffentlichungsdatum: | 29.04.2025 |
| EAN: | 9783731514022 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 210 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Verlag: | KIT Scientific Publishing |
Produktinformationen "Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces"
Retroreflex ellipsometry addresses the geometric restrictions of conventional ellipsometry by using a retroreflective sheet, which returns the light beam from the sample on the same beam path. Simulation and experiments of retroreflex ellipsometry in two- and three-phase systems have been demonstrated based on the proposed concepts, which have shown the capabilities of ellipsometric measurements on nonplanar surfaces.
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