Reliability Physics and Engineering
Produktnummer:
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| Autor: | McPherson, J. W. |
|---|---|
| Themengebiete: | Device Reliability Failure Modeling and statistics Failure Rate Reduction Maintenance and Reliability Probabilistic Models and Statistical Modeling Quality Assurance Engineering Reliability Engineering quality control, reliability, safety and risk |
| Veröffentlichungsdatum: | 10.01.2019 |
| EAN: | 9783319936826 |
| Auflage: | 3 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 463 |
| Produktart: | Gebunden |
| Verlag: | Springer International Publishing |
| Untertitel: | Time-To-Failure Modeling |
Produktinformationen "Reliability Physics and Engineering"
Provides comprehensive textbook on reliability physics of semiconductors, from fundamentals to applicationsExplains the fundamentals of reliability physics and engineering tools for building better productsContains statistical training and tools within the textIncludes new chapters on Physics of Degradation, and Resonance and Resonance-Induced Degradation.
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