Reliability Issues and Approaches in MOSFET circuits
Produktnummer:
16A42400067
| Autor: | Kumar, Amit |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 04.12.2019 |
| EAN: | 9786200325785 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 72 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Verlag: | LAP LAMBERT Academic Publishing |
Produktinformationen "Reliability Issues and Approaches in MOSFET circuits"
This is the first publication by me on Reliability issues of nano scale devices. As the technology is shrinking the Reliability issues increase exponentially. In this work i had evaluated the life time of a device if under the different condition. Worked on different latest devices like Silicon on Insulator(SOI) and LD MOS. We had proposed different techniques to enhance or increase the life span of devices. Because they impact the operation of different crucial application like automobile, space.
Sie möchten lieber vor Ort einkaufen?
Sie haben Fragen zu diesem oder anderen Produkten oder möchten einfach gerne analog im Laden stöbern? Wir sind gerne für Sie da und beraten Sie auch telefonisch.
Juristische Fachbuchhandlung
Georg Blendl
Parcellistraße 5 (Maxburg)
8033 München
Montag - Freitag: 8:15 -18 Uhr
Samstags geschlossen