Produktnummer:
1803a38a4d836e426dbb459e0d14b18dc7
| Themengebiete: | Aberration Corrected Transmission Electron Microscopy Charged-particle microscopy Electron/Ion Optics Electron Microanalysis Helium Ion Microscopy In situ TEM Scanning Electron Microscopy Transmission Electron Microscopy |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 14.09.2018 |
| EAN: | 9789811304538 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 508 |
| Produktart: | Gebunden |
| Herausgeber: | Bai, Xuedong Tao, Jing Wang, Chen Wang, Rongming Zhang, Hongzhou |
| Verlag: | Springer Singapore |
Produktinformationen "Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation"
Presents a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examines their crucial roles in modern materials research Showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopyExplores the growing opportunities in this field and introduces readers to state-of-the-art charged-particle microscopy techniques
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