Produktnummer:
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| Themengebiete: | Atomic force microscopy Auger electron spectroscopy Ellipsometry Infra-red spectroscopy Materials characterization Microstructure Scanning probe microscopy Surface analysis X-ray photoelectron spectroscopy X-ray scattering |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 11.07.2014 |
| EAN: | 9781461492801 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 237 |
| Produktart: | Gebunden |
| Herausgeber: | Sardela, Mauro |
| Verlag: | Springer US |
Produktinformationen "Practical Materials Characterization"
Practical Materials Characterization covers the most common materials analysis techniques in a single volume. It stands as a quick reference for experienced users, as a learning tool for students, and as a guide for the understanding of typical data interpretation for anyone looking at results from a range of analytical techniques. The book includes analytical methods covering microstructural, surface, morphological, and optical characterization of materials with emphasis on microscopic structural, electronic, biological, and mechanical properties. Many examples in this volume cover cutting-edge technologies such as nanomaterials and life sciences.
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