Produktnummer:
187fd85bb686f94f11862e8bcb17880002
| Themengebiete: | Analysis Dahmen Electron Imaging Microscopy Modeling Nanoscale Resolution STEM TEM |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 02.03.2012 |
| EAN: | 9781461421900 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 182 |
| Produktart: | Gebunden |
| Herausgeber: | Binev, Peter Dahmen, Wolfgang Vogt, Thomas |
| Verlag: | Springer US |
Produktinformationen "Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy"
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing.
Sie möchten lieber vor Ort einkaufen?
Sie haben Fragen zu diesem oder anderen Produkten oder möchten einfach gerne analog im Laden stöbern? Wir sind gerne für Sie da und beraten Sie auch telefonisch.
Juristische Fachbuchhandlung
Georg Blendl
Parcellistraße 5 (Maxburg)
8033 München
Montag - Freitag: 8:15 -18 Uhr
Samstags geschlossen