LabVIEW based Automation Guide for Microwave Measurements
Produktnummer:
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| Autor: | Dubey, Satya Kesh Narang, Naina Negi, P. S. Ojha, V. N. |
|---|---|
| Themengebiete: | Attenuation Automation Electric field LabVIEW Microwave measurement Scattering parameters Uncertainty |
| Veröffentlichungsdatum: | 14.10.2017 |
| EAN: | 9789811062797 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 45 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Verlag: | Springer Singapore |
Produktinformationen "LabVIEW based Automation Guide for Microwave Measurements"
Provides a step-by-step guide to measurement automationTeaches how to create custom automation systems for real-world problemsFocuses on microwave and radio frequency (RF)-related applications
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