Produktnummer:
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| Themengebiete: | Element analysis Heavy metals KLT KLTcatalog PES Process control REM Trace element analysis X-ray fluorescence diffraction |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 22.06.2006 |
| EAN: | 9783540286035 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 863 |
| Produktart: | Gebunden |
| Herausgeber: | Beckhoff, Burkhard Kanngießer, Birgit Langhoff, Norbert Wedell, Reiner Wolff, Helmut |
| Verlag: | Springer Berlin |
Produktinformationen "Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis"
X-Ray fluorescence analysis is an established technique for non-destructive elemental materials analysis. This book gives a user-oriented practical guidance to the application of this method. The book gives a survey of the theoretical fundamentals, analytical instrumentation, software for data processing, various excitation regimes including gracing incidents and microfocus measurements, quantitative analysis, applications in routine and micro analysis, mineralogy, biology, medicine, criminal investigations, archeology, metallurgy, abrasion, microelectronics, environmental air and water analysis. This book is the bible of X-Ray fluorescence analysis. It gives the basic knowledge on this technique, information on analytical equipment and guides the reader to the various applications. It appeals to researchers, analytically active engineers and advanced students.
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