Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
Produktnummer:
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| Autor: | Lienig, Jens Rothe, Susann Thiele, Matthias |
|---|---|
| Themengebiete: | Blech length VLSI design circuit design current density electromigration interconnect reliability physical design reservoir effect short-length effects short-line rules |
| Veröffentlichungsdatum: | 26.02.2025 |
| EAN: | 9783031800221 |
| Auflage: | 2 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 167 |
| Produktart: | Gebunden |
| Verlag: | Springer International Publishing |
Produktinformationen "Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design"
The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. This second edition has been updated to introduce recent advancements in the understanding of the physical process of electromigration, which gives the reader the knowledge for adopting appropriate counter measures. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration. Finally, the authors show how specific effects can be exploited in present and future technologies to reduce electromigration’s negative impact on circuit reliability.
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