Field Emission Scanning Electron Microscopy
Produktnummer:
1829c1c5d944674ef297c8f8e292037aca
| Autor: | Brodusch, Nicolas Demers, Hendrix Gauvin, Raynald |
|---|---|
| Themengebiete: | Dark-Field Imaging Dual in-lens electron detection Electron Backscatter Diffraction Electron Channeling Contrast Imaging Field emission gun technologies Ionic liquid treatment Low voltage SEM Magnetic domain imaging Silicon drift detector X-ray imaging |
| Veröffentlichungsdatum: | 06.10.2017 |
| EAN: | 9789811044328 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 137 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Verlag: | Springer Singapore |
| Untertitel: | New Perspectives for Materials Characterization |
Produktinformationen "Field Emission Scanning Electron Microscopy"
This book highlights what is now achievable in terms of materials characterization with the new generation of cold-field emission scanning electron microscopes applied to real materials at high spatial resolution. It discusses advanced scanning electron microscopes/scanning- transmission electron microscopes (SEM/STEM), simulation and post-processing techniques at high spatial resolution in the fields of nanomaterials, metallurgy, geology, and more. These microscopes now offer improved performance at very low landing voltage and high -beam probe current stability, combined with a routine transmission mode capability that can compete with the (scanning-) transmission electron microscopes (STEM/-TEM) historically run at higher beam accelerating voltage
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