Produktnummer:
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| Themengebiete: | Gitterfehler Halbleiter Structures crystal crystallographic defect diffusion electron microscopy semiconductor |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 01.02.1983 |
| EAN: | 9783540119869 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 311 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Herausgeber: | Beleznay, F. Giber, J. Laszlo, J. Szep, I. C. |
| Verlag: | Springer Berlin |
| Untertitel: | Proceedings of the International School Held in Mátrafüred, Hungary, September 13 – 17, 1982 |
Produktinformationen "Defect Complexes in Semiconductor Structures"
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