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Beam Diagnostics in Superconducting Accelerating Cavities

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Produktnummer: 16A21642447
Autor: Zhang, Pei
Veröffentlichungsdatum: 05.08.2013
EAN: 9783319007588
Auflage: 2013
Sprache: Englisch
Seitenzahl: 132
Produktart: Gebunden
Verlag: Springer International Publishing Springer International Publishing AG
Untertitel: The Extraction of Transverse Beam Position from Beam-Excited Higher Order Modes
Produktinformationen "Beam Diagnostics in Superconducting Accelerating Cavities"
Nominated as an outstanding Ph.D. thesis by the Deutsches Elektronen-Synchrotron (DESY), Hamburg, GermanyThe author is the winner of the 2011 European Accelerator Prize for promising young researchersA valuable didactic introduction for students and scientists new to the field of rf diagnosticsProvides a detailed survey of various dimension reduction methods applicable for rf diagnosticsIncludes supplementary material: sn.pub/extras

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