Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
Produktnummer:
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| Autor: | Waseda, Yoshio |
|---|---|
| Themengebiete: | Amorphous alloys Atomic structure Crystals Materials analysis Quasicrystals REM STEM |
| Veröffentlichungsdatum: | 11.09.2002 |
| EAN: | 9783540434436 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 214 |
| Produktart: | Gebunden |
| Verlag: | Springer Berlin |
| Untertitel: | Atomic-Scale Structure Determination |
Produktinformationen "Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization"
A new materials characterization methods, anomalous X-ray scattering, is presented in this book.
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