Produktnummer:
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| Themengebiete: | Aberration Corrected Electron Microscopy Cryo-electron Microscopy EELS Electron Diffraction Electron Microscopic Techniques HRTEM In-situ Electron Microscopy Nanomaterials TEM |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 25.06.2015 |
| EAN: | 9783319151762 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 272 |
| Produktart: | Gebunden |
| Herausgeber: | Arenal, Raul Deepak, Francis Leonard Mayoral, Alvaro |
| Verlag: | Springer International Publishing |
| Untertitel: | Applications to Nanomaterials |
Produktinformationen "Advanced Transmission Electron Microscopy"
This book highlights the current understanding of materials in the context of new and continuously emerging techniques in the field of electron microscopy. The authors present applications of electron microscopic techniques in characterizing various well-known & new nanomaterials. The applications described include both inorganic nanomaterials as well as organic nanomaterials.
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