Haben Sie Fragen? Einfach anrufen, wir helfen gerne: Tel. 089/210233-0
oder besuchen Sie unser Ladengeschäft in der Pacellistraße 5 (Maxburg) 80333 München
+++ Versandkostenfreie Lieferung innerhalb Deutschlands
Haben Sie Fragen? Tel. 089/210233-0

109,99 €*

Sofort verfügbar, Lieferzeit: 1-3 Tage

Produktnummer: 18836204d107634e43a5cf58d246aa3f3b
Autor: Bosio, Alberto Dilillo, Luigi Girard, Patrick Pravossoudovitch, Serge Virazel, Arnaud
Themengebiete: Dynamic Memory Faults Electronic Testing Memory Testing Nanoscale Testing SRAM Semiconductor Memories Semiconductor Testing Technologie currmssc design
Veröffentlichungsdatum: 03.09.2014
EAN: 9781489983145
Sprache: Englisch
Seitenzahl: 171
Produktart: Kartoniert / Broschiert
Verlag: Springer US
Untertitel: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Produktinformationen "Advanced Test Methods for SRAMs"
Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable guide to the testing and diagnostics of the latest generation of SRAM, one of the most widely applied types of memory. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new fault models, referred to as "dynamic faults", are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book.

Sie möchten lieber vor Ort einkaufen?

Sie haben Fragen zu diesem oder anderen Produkten oder möchten einfach gerne analog im Laden stöbern? Wir sind gerne für Sie da und beraten Sie auch telefonisch.

Juristische Fachbuchhandlung
Georg Blendl

Parcellistraße 5 (Maxburg)
8033 München

Montag - Freitag: 8:15 -18 Uhr
Samstags geschlossen