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Adaptive Bayes’sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung

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Produktnummer: 1836e1f58d56424d5fa986dfa0926b3bda
Autor: Lenz, Hans-Joachim Rendtel, Ulrich
Themengebiete: Arbeit Auswertung Bewertung Ergebnis Garantie Information Kosten Mode Planung Prüfung
Veröffentlichungsdatum: 12.04.1990
EAN: 9783790804683
Sprache: Deutsch
Seitenzahl: 231
Produktart: Kartoniert / Broschiert
Verlag: Physica
Produktinformationen "Adaptive Bayes’sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung"

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